不同粒度測試方法的優缺點

(1)激光法：優(you) 點：操作簡便，測試速度快，測試範圍大，重複性和準確性好，涵蓋行業(ye) 廣泛，可實現濕法、幹法、噴霧以及在線測量，也是當下zui常用的粒度檢測儀(yi) 器。缺點：數據模型以及算法參數影響較大，成本相對較高。

(2)靜態圖像法：由顯微鏡、攝像機和圖像分析軟件組成。優(you) 點：成本較低，操作簡單，圖像清晰、可進行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點：分析速度慢（製作標本等工序），無法分析細顆粒（如<1μm）。 

(3)動態圖像法：由顯微鏡、高速攝像機、樣品分散係統、控製係統以及高速圖像分析軟件組成。優(you) 點：顆粒圖像直觀清晰，操作簡便、拍攝與(yu) 分析速度快、重複性和準確性好，可幹法也可濕法，可測量zui大顆粒，可進行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點：分析細顆粒（如<1μm）圖像不清晰，誤差較大，成本較高。

(4)電鏡法：用電子顯微鏡（掃描電鏡或透射電鏡）拍攝顆粒圖像，然後再進行圖像分析的方法。優(you) 點：能分析納米顆粒和超細顆粒，圖像清晰，表麵紋理可見，分辨率高，是表征納米材料粒度的標準方法。缺點：單幅圖像中的顆粒數少、代表性差、儀(yi) 器價(jia) 格昂貴。

(5)篩分法：優(you) 點：簡單、直觀、設備造價(jia) 低，常用於(yu) 大於(yu) 38μm（400目）的樣品。缺點：不能用於(yu) 超細樣品；結果受人為(wei) 因素和篩孔變形影響較大。

(6)沉降法：優(you) 點：操作簡便，儀(yi) 器可以連續運行，價(jia) 格較低，準確性和重複性較好，測試範圍較大。缺點：測試時間較長，操作較複雜，結果易受環境因素影響。

(7)光阻法：優(you) 點：測試速度快，可測液體(ti) 或氣體(ti) 中顆粒數，分辨力高，樣品用量少。缺點：進樣係統比較複雜，不適用粒徑<1μm的樣品。

(8)電阻法：優(you) 點：操作簡便，可測顆粒數，等效概念明確，速度快，準確性好。缺點：不適合測量超細樣品和寬分布樣品，更換小孔管比較麻煩。

(9)超聲波法：優(you) 點：可對高濃度漿料直接現場測量，無需取樣。缺點：分辨率較低，準確性和重複性較差，結果受環境因素影響較大。

(10)透氣法（費氏法）：優(you) 點：儀(yi) 器價(jia) 格低，不用對樣品進行分散，可直接測量幹粉，可測磁性材料粉體(ti) 。缺點：隻能得到平均粒度值，不能測粒度分布。